超声波探头
超声波探头主要分为:直探头,斜探头,带曲率探头,聚焦探头,表面波探头,水浸探头,双晶探头,测厚探头,高温探头等。
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超声波斜探头
超声波探头主要分为:直探头,斜探头,带曲率探头,聚焦探头,表面波探头,水浸探头,双晶探头,测厚探头,高温探头等。
超声波斜探头:主要用于横波探伤用来检测焊缝气孔、裂纹、浃渣等缺陷。
超声波斜探头主要由斜块、压电晶片、吸声材料、外壳、插座等组成。超声波的发射/接收由压电晶片完成;斜块的作用是实现波型的转换,当入射角(α)在第一临界角和第二临界角之间时,根据超声波在不同声阻抗界面的折射定律,工件中只有横波的存在;吸声材料用来吸收晶片背面、斜块四周发散的噪声;外壳起到支撑、保护、电磁屏蔽等作用;插座为电信号接口,通过探头线连接到仪器。斜探头折射角的大小通过K 值来标明。在探头的型号上标明检测钢工件时的K 值,K=tg(Θ),即折射角度的正切值。常用的K 值有0.8、1.0、1.5、2.0、2.5、3.0 等几种。采用K 值标称探头,缺陷的定位计算比较方便。斜探头的声束与探头表面倾斜,因此可用于检测直声束无法到达的部位、或者缺陷的方向与检测面之间存在夹角的区域。
超声波斜探头规格如下:
探头类型 | 频率(MHz) | 晶片尺寸 |
斜探头 | 2.5P | 9×9 K0.8 K1 K1.2 K1.5 K2 K2.5 |
斜探头 | 5P | 13×13 K0.8 K1 K1.2 K1.5 K2 K2.5 K3 |
斜探头 | 2.5P | Φ14 K0.8 K1 K1.2 K1.5 K2 K2.5 K3 |
斜探头 | 5P | Φ20 K0.8 K1 K1.2 K1.5 K2 K2.5 K3 |
备注:可提供各种K字型探头 折射角:38°—90°(K3—K70) |
超声波金属直探头
超声波探头主要分为:直探头,斜探头,带曲率探头,聚焦探头,表面波探头,水浸探头,双晶探头,测厚探头,高温探头等。进行垂直探伤用的单晶片探头,直探头产生的超声波为垂直于探头表面的纵波声束。
超声波直探头在光滑表面上具有很高增益和非常好的分辨率,用于有保护膜的探头不适合于有锋利边缘的物体检测。带可更换保护膜的直探头,即使是在粗糙或轻微 弯曲的表面上,由于柔性的抗磨损保护膜而具有稳定的耦合特性,如果及时的更换保护膜,则探头的磨损可以达到最小。超声波直探头保护膜分硬膜和软膜。
适用范围:纵波直探头系列主要用于棒材、板材、锻件、铸件的纵波缺陷检测。
纵波直探头规格如下:
探头类型 | 频率(MHz) | 晶片尺寸 |
低频直探头 | 0.5P | Φ20 Φ30 |
直探头 | 1—5P | Φ6 Φ8 Φ10 Φ14 Φ20 Φ25 Φ30 |
高频直探头 | 6—10P | Φ4 Φ6 Φ8 Φ10 |
备注:也可以提供各种规格软保护膜探头 |
超声波双晶直探头
超声波双晶直探头:采用了双晶聚焦的方法,强加了对缺陷的检测能力。
双直双斜探头系列
超声波探头主要分为:直探头,斜探头,带曲率探头,聚焦探头,表面波探头,水浸探头,双晶探头,测厚探头,高温探头等。
双晶探头:采用了双晶聚焦的方法,强加了对缺陷的检测能力。双晶探头装有两个晶片,一个作为发射器,另一个作为接收。又称分割探头、联合探头。
双晶探头适用范围:主要用于检测焊缝及板材夹层的缺陷。
适用范围:主要用于检测焊缝及板材夹层的缺陷。
双晶直探头规格如下:
规格品种 | 频率范围(MHz) | 晶片尺寸(mm) | 焦距 (mm) | 角度 |
双晶直探头 | 2.5—5 | 10×12×2、Φ14×2、Φ20×2 | F5、F10、F15、F20、F30 | |
双晶斜探头 | 2.5、5 | 10×12×2、10×10×2 | F10、F20、F30 | K1、K2、K3 |
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