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济宁捷晨检测仪器有限公司

Jining Jiechen Testing Instrument Co.Ltd.

CSK-1A 超声波试块

CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利 用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分 辨力。

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    CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利 用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分 辨力。



CSK-1A 超声波试块
CSK-IA试块是由IIW试块的基础上改进而来的 主要用途有:1利用R100mm曲面测定斜探头的 入射点和前沿长度;2利用50和1.5mm圆孔测定 斜探头的折射角;3利用试块直角棱边测定斜探头 声束轴线的偏离情况;4利用25mm厚度测定探伤 仪水平线性、垂直线性和动态范围;5利用25mm 厚度调整纵波探测范围和扫描速度;6利用R50和 R100mm曲面调节横波探测范围和扫描速度;7利 用50、44和40mm 三个台阶孔测定斜探头分 辨力。
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